Книжкові видання та компакт-диски Журнали та продовжувані видання Автореферати дисертацій Реферативна база даних Наукова періодика України Тематичний навігатор Авторитетний файл імен осіб
|
Для швидкої роботи та реалізації всіх функціональних можливостей пошукової системи використовуйте браузер "Mozilla Firefox" |
|
|
Повнотекстовий пошук
Пошуковий запит: (<.>A=Юргелевич І$<.>) |
Загальна кількість знайдених документів : 4
Представлено документи з 1 до 4
|
1. |
Поперенко Л. В. Дослідження плівок оксиду цинку методами електронної і атомносилової мікроскопії та спектральної еліпсометрії [Електронний ресурс] / Л. В. Поперенко, М. В. Раков, В. М. Ткач, І. В. Юргелевич // Науковий вісник Ужгородського університету. Сер. : Фізика. - 2009. - Вип. 24. - С. 166-170. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/Nvuufiz_2009_24_28
| 2. |
Поперенко Л. В. Особливості оптичних властивостей літій-германатного скла та склокераміки у видимій області спектра [Електронний ресурс] / Л. В. Поперенко, М. П. Трубіцин, С. Г. Неділько, І. В. Юргелевич, О. О. Нестеров, Я. О. Рибак, Б. А. Цюк // Вісник Київського національного університету імені Тараса Шевченка. Серія : Фізико-математичні науки. - 2015. - Вип. 4. - С. 213-216. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/VKNU_fiz_mat_2015_4_38 Досліджено зразки Li2O - xGeO2 (x = 7, 11,5) у трьох станах: скло, склокераміка та полікристалічна стадія. За допомогою еліпсометра ЛЕФ-3М було визначено еліпсометричні параметри - (зсув фаз) та і (азимут відновленої лінійної поляризації). З цих даних було розраховано значення показника заломлення та кута Брюстера для всіх типів зразків. Фотолюмінесценція досліджувалася на спектрометрі СДЛ-2М, всі зразки характеризуються свіченням у видимій області спектра. Одержані результати було порівняно з літературними даними та з даними про структуру зразків.
| 3. |
Юргелевич І. В. Оптичні властивості органо-неорганічних мезоструктурних золь-гель плівок на основі оксидів кремнію та титану з інкорпорованим барвником Родамін 6Ж [Електронний ресурс] / І. В. Юргелевич, Г. М. Тельбіз, О. В. Стронський, Л. В. Поперенко, О. Г. Лопатинська, Є. В. Леоненко // Вісник Київського національного університету імені Тараса Шевченка. Серія : Фізико-математичні науки. - 2015. - Вип. 1. - С. 223-228. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/VKNU_fiz_mat_2015_1_42 Органо-неорганічні мезоструктурні золь-гель плівки на основі оксидів кремнію та титану з інкорпорованим барвником Родамін 6Ж було одержано різним способом нанесення (spin- або dip-coating) плівкоутворюючого золю на субстрат. Оптичний аналіз зразків проводився на основі спектрів поглинання і люмінесценції та кутової еліпсометрії. Показано, що одержані за методом центрифугування та осадження з розчину тонкі плівки на основі барвника Р6Ж проявляють у видимій області спектра властивості, що притаманні типовим діелектрикам чи слабкопоглинальним напівпровідникам. Останнє однозначно зафіксовано у випадку плівки, до складу якої було введено оксид TiO2. За кутом Брюстера цих плівок визначено показники заломлення, значення яких знаходяться в межах від 1,39 до 1,69.
| 4. |
Мельниченко Л. Ю. Оптична анізотропія наноструктурованого кремнію [Електронний ресурс] / Л. Ю. Мельниченко, Л. В. Поперенко, І. В. Юргелевич // Вісник Київського національного університету імені Тараса Шевченка. Серія : Фізико-математичні науки. - 2017. - Вип. 1. - С. 119-122. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/VKNU_fiz_mat_2017_1_22 Проведено еліпсометричну діагностику наноструктурованого кремнію, сформованого у вигляді окремих комірок на поверхні пластини монокристалічного кремнію за допомогою методу лазерної абляції. Лазерне опромінення проводилось волоконним лазером на основі Yb, що генерує імпульси з енергією до 1 мДж на частоті 1 МГц з довжиною хвилі 1060 нм. Потужність лазерного опромінення на поверхні монокристалічного кремнію коливалася від 100 мВт до 1 Вт. Для характеризації оптичної анізотропії сформованих поверхневих структур визначено еліпсометричні параметри cos<$EDELTA> та tg<$EPSI> у 2-х взаємно перпендикулярних азимутальних напрямках у власній площині зразка відносно його р-напрямку. Виявлену значну відмінність у значеннях еліпсометричних параметрів як за багатокутових вимірювань, так і у разі вимірювання за одного куту падіння світла, пояснено розподілом напруг в скін-шарі, зондованому поляризованим світлом.
|
|
|